- Turime sandėlyje
/images/books/1167978/1530536215_1218_Kvedaras_sparciuju__virselis.jpg)
- Autorius: Rokas Kvedaras, Vygaudas Kvedaras
- Leidėjas: Technika
- Metai: 2011
- Puslapiai: 116
- ISBN: 9789955289210
- Formatas: 14,5 x 20,5 x 0,6 cm, minkšti viršeliai
- Extra -10 % nuolaida šiai knygai su kodu NORIU10
Sparčiųjų skaitmeninių integrinių grandynų ir informacijos keitiklių dinaminių parametrų testavimas | knygos.lt
Atsiliepimai
Aprašymas
Knygoje pateikiama medžiaga aprėpia sparčiųjų integrinių grandynų (IG), skaitmeninių-analoginių keitiklių (SAK) ir analoginių skaitmeninių keitiklių (ASK) vertinamojo bandymo ir parametrų nustatymo problemas.
Elektroninių sistemų testavimas padeda užtikrinti gaminamų sistemų kokybę ir naudojimo patikimumą. Tai svarbus uždavinys šių sistemų gamybos procese. Dabar praktikoje labai plačiai naudojami skaitmeniniai integriniai grandynai (SIG) ir integriniai informacijos keitikliai – skaitmeniniai-analoginiai (SAK) bei analoginiai-skaitmeniniai (ASK). Šių įrenginių vertinamojo bandymo problemos sudėtingos, būtini specialūs metodai bei įranga.
Leidinys skirtas Vilniaus Gedimino technikos universiteto elektronikos specialybių magistrantūros studentams, studijuojantiems elektroninių sistemų testavimo (ELESM03701) modulį. Žinios gali būti reikalingos elektronikos inžinieriams praktikams.
EXTRA 10 % nuolaida su kodu: NORIU10
Akcija baigiasi už 6d.05:12:59
Nuolaidos kodas galioja perkant nuo 10 €. Nuolaidos nesumuojamos.
- Autorius: Rokas Kvedaras, Vygaudas Kvedaras
- Leidėjas: Technika
- Metai: 2011
- Puslapiai: 116
- ISBN: 9789955289210
- Formatas: 14,5 x 20,5 x 0,6 cm, minkšti viršeliai
Knygoje pateikiama medžiaga aprėpia sparčiųjų integrinių grandynų (IG), skaitmeninių-analoginių keitiklių (SAK) ir analoginių skaitmeninių keitiklių (ASK) vertinamojo bandymo ir parametrų nustatymo problemas.
Elektroninių sistemų testavimas padeda užtikrinti gaminamų sistemų kokybę ir naudojimo patikimumą. Tai svarbus uždavinys šių sistemų gamybos procese. Dabar praktikoje labai plačiai naudojami skaitmeniniai integriniai grandynai (SIG) ir integriniai informacijos keitikliai – skaitmeniniai-analoginiai (SAK) bei analoginiai-skaitmeniniai (ASK). Šių įrenginių vertinamojo bandymo problemos sudėtingos, būtini specialūs metodai bei įranga.
Leidinys skirtas Vilniaus Gedimino technikos universiteto elektronikos specialybių magistrantūros studentams, studijuojantiems elektroninių sistemų testavimo (ELESM03701) modulį. Žinios gali būti reikalingos elektronikos inžinieriams praktikams.
Atsiliepimai